产品名：差式扫描量热仪
　　简　介：DTA差热分析仪
　　DTA：差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：氧化诱导期，相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。
　　DTADZ3320A
　　温度范围室温~1150℃   
　　量程范围0～±2000μV
　　DTA精度±0.1μV
　　升温速率1～60℃/min
　　温度分辨率0.1℃
　　温度准确度±0.1℃
　　温度重复性±0.1℃
　　温度控制 升温：程序控制        可根据需要进行参数的调整
　　降温：风冷 程序控制   可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
　　恒温：程序控制        恒温时间任意设定
　　炉体结构 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
　　气氛控制 内含 气体流量计，气氛转换装置
　　数据接口 USB接口通讯     配套数据线和操作软件
　　主机显示 汉字大屏  彩色液晶显示  触摸屏
　　参数标准 配有标准物：用户可自行对温度进行校正  有一键校准功能
　　基线调整  ：用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
　　工作电源 AC 220V   50Hz